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FM系列焦斑質量分析儀 緊湊的探測器頭由一個CCD傳感器、一個集成的衰減器、一個近場透鏡和Beamlux Ⅱ高級分析軟件組成。功率與工作距離與適配的探測器選擇有關，詳見下方型號選擇表格。 大范圍波長可選，根據近場透鏡確保對大數值孔徑和高脈沖功率密度的光斑進行測量。

metrolux 夏克-哈德曼波前分析儀WFS Metrolux 夏克-哈德曼波前分析儀 WFS3743-40-200可在線分析激光及其他光源的波前相位分布，也可高精度的測量光學器件的像差。可以用于手機和相機的鏡頭等光學透鏡質量控制。夏克-哈特曼式傳感器的波前監控器配合外部軟件可用于波前數據分析。

激光光束穩定器 激光光束由于其方向性好的優點，常被作為直線基準廣泛應用在加工和測量設備中。但由于受環境狀態等因素的影響，制約了激光方向穩定精度的進一步提高，限制了激光在超精密加工和測量設備中的進一步應用。因此，需要對激光光束作準直處理。在自動準直系統中，系統根據輸入光束光斑的位置，驅動執行機構，自動調整接收裝置位置，達到實時跟蹤準直的目的。

SHR激光波長計可以快速精確的連續光/脈沖光的波長，在190-1100nm可測范圍內，精度達到了+/-3pm, 光學分辨率（FWHM）可以達到30000（λ/Δλ（FWHM）），在紫外段，可以達到6pm，在近紅外波段可以達到40pm。 同時也可以同步分析激光的線寬等參數。

40GHz光電探測器$n EOT 的 ET-3600 系列高速光電探測器應用于時域和頻率測試， ET-3600帶寬高達40GHz，且光譜范圍覆蓋900-1700nm.。上升沿和下降沿時間只有9Ps，ET-3600提供自由空間輸入和FC/UPC 輸入使得適合于各種激光器的測試。

TTI光電轉換器 光電探測器的原理是由輻射引起被照射材料電導率發生改變。光電探測器在軍事和國民經濟的各個領域有廣泛用途。在可見光或近紅外波段主要用于射線測量和探測、工業自動控制、光度計量等；在紅外波段主要用于制導、紅外熱成像、紅外遙感等方面。 TTI（Terahertz Technologies Inc.）生產的TIA-525，TIA-527，TIA-952系列光電

C-995光學斬波器 C-995的主要作用是將連續光調制成為有固定頻率的光，同時輸出調制頻率。通常是與鎖相放大器配合使用。C-995一般由如下幾個部件構成：控制單元、斬波裝置、斬波片和連接線等。

SR540光學斬波器 SR540可以滿足您所有的光學調制要，無論是單光束實驗，還是雙光束研究。它具有4位數字頻率顯示、前面板頻率控制、模擬電壓頻率控制和與兩個參考輸出可選擇的工作模式。兩個斬波片分別是5/6孔徑和25/30孔徑，可實現光學調制從4Hz到3.7KHz.參考頻率與實際斬波頻率相*，采用閉環控制系統，斬波輸出更加穩定。